电子技术——MOS管的CV特性

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电子技术——MOS管的CV特性

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MOS管是一种压控晶体管,本节我们学习MOS管的CV特性,即电压-电流特性。MOS管的特性曲线有两种,分别是伏安特性和传导特性。






i

D

v

D

S

i_D-v_{DS}







i










D






























v











D


S






















特性曲线

为了测量MOS管的



i

D

v

D

S

i_D-v_{DS}







i










D






























v











D


S






















曲线,我们使用下面的电路:

测量电路

由上图可知,我们固定栅极电压



v

G

S

v_{GS}







v











GS






















然后调节源极-漏极电压



v

D

S

v_{DS}







v











D


S






















来观察漏极电流



i

D

i_D







i










D





















的变化。通过这样的方法,我们就可以绘制出MOS管的CV特性曲线如下图:

CV特性

图中显示了三个区域,分别是

截止区域


饱和区域


三极管区

。其中截止区域和三极管区作用于开关电路。

换句话说,如果MOS管用作于放大器,他必须处在饱和区。

图中展现了两条曲线,一种是在



v

G

S

<

V

t

n

v_{GS} < V_{tn}







v











GS





















<









V











t


n






















情况下测量的,此时MOS管永远工作在截止区,因为栅极没有足够大于阈值电压的电压来创建沟道,因此漏极电流恒为零。另一种是在



v

G

S

=

V

t

n

+

v

O

V

v_{GS} = V_{tn} + v_{OV}







v











GS





















=









V











t


n





















+









v











O


V






















下测量,此时MOS管打开,可能处在三极管区,也可能处在饱和区。

三极管区和饱和区的边界即是



v

D

S

v_{DS}







v











D


S


























v

O

V

v_{OV}







v











O


V






















之间的大小关系,若想MOS管工作在饱和区,那么必须使得



v

D

S

>

v

G

V

t

n

v_{DS} > v_{G} – V_{tn}







v











D


S





















>









v











G































V











t


n



























i

D

v

G

S

i_D-v_{GS}







i










D






























v











GS






















特性曲线

由上节的知识,我们知道,当MOS管工作在饱和区的时候,此时



i

D

i_D







i










D

























v

D

S

v_{DS}







v











D


S






















无关,只与



v

O

V

v_{OV}







v











O


V






















有关,关系是:





i

D

=

1

2

k

n

(

W

L

)

v

O

V

2

i_D = \frac{1}{2} k’_{n} (\frac{W}{L}) v_{OV}^2







i










D




















=



















2














1





















k











n






























(













L














W




















)



v











O


V









2





















在不同



v

O

V

v_{OV}







v











O


V






















测量得到的曲线如下:

不同OV

此时,我们假设MOS管工作在饱和区(漏极电压足够大),那么



i

D

v

G

S

i_D-v_{GS}







i










D






























v











GS






















特性曲线应该是如下的二次曲线:

CV特性



MOS管的有限内阻

观察伏安特性曲线,MOS管在饱和区显示出内阻无限大的特性(理想电流源),但是世上没有内阻无限大的电路,实际上MOS管一定是存在内阻的,改变



v

D

S

v_{DS}







v











D


S






















电压产生的一个最大的效应就是会改变MOS管沟道的长度,如图所示:

沟道的长度

图中沟道减小的那一段距离



Δ

L

\Delta L






Δ


L





就是由电压



v

D

S

v

O

V

v_{DS}-v_{OV}







v











D


S































v











O


V






















造成的线性变化,进而影响



i

D

i_D







i










D





















电流,这个效应称为

沟道长度调制效应

我们通过一个因子



λ

\lambda






λ





来描述这个变化,



λ

\lambda






λ





参数是MOS管本身工艺和原始长度



L

L






L





决定的:





i

D

=

1

2

k

n

(

W

L

)

v

O

V

2

(

1

+

λ

v

D

S

)

i_D = \frac{1}{2} k’_{n} (\frac{W}{L}) v_{OV}^2(1+\lambda v_{DS})







i










D




















=



















2














1





















k











n






























(













L














W




















)



v











O


V









2


















(


1




+








λ



v











D


S



















)





有限内阻

我们发现,新的曲线的延长线都交于一点



V

A

=

1

λ

-V_A = -\frac{1}{\lambda}










V










A




















=























λ
















1
























,即



V

A

=

1

λ

V_A = \frac{1}{\lambda}







V










A




















=




















λ
















1
























具有电压量纲。我们可以分离



L

L






L





变量:





V

A

=

V

A

L

V_A = V_A’ L







V










A




















=









V










A





























L





此时



V

A

V_A’







V










A
































只和MOS管本身工艺有关,这个电压也称为厄尔利电压。

引入沟道长度调制效应之后,我们发现,MOS管不再显示出无限内阻特性,而是等效于一个有内阻的电流源:

带内阻的电流源

这个内阻我们记为



r

o

r_o







r










o





















定义为:





r

o

[

i

D

v

D

S

]

v

G

S

=

c

o

n

s

t

1

r_o \equiv [\frac{\partial i_D}{\partial v_{DS}}]^{-1}_{v_{GS}=const}







r










o





























[

















v











D


S



































i










D





































]












v











GS



















=


co


n


s


t













1






















求导可的:





r

o

=

[

λ

k

n

2

W

L

(

V

G

S

V

t

n

)

]

1

r_o = [\lambda \frac{k_{n}’}{2} \frac{W}{L}(V_{GS} – V_{tn})]^{-1}







r










o




















=








[


λ













2















k











n



























































L














W




















(



V











GS































V











t


n



















)



]














1













带入饱和电流公式:





r

o

=

1

λ

I

D

=

V

A

I

D

r_o = \frac{1}{\lambda I_D} = \frac{V_A}{I_D}







r










o




















=



















λ



I










D






























1






















=




















I










D































V










A







































其中



I

D

I_D







I










D





















是之前无沟道长度调制效应时的饱和电流,由此可见,内阻和漏极电流成反比。



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